IV. évfolyam, 65. szám (2007. december 21.)

Kleinhappel Miklós  2007.12.21. 19:39

IV. évfolyam 65. szám 2007.12.21.

---

Előadás a felületvizsgáló tömegspektrometriáról

            Kertész Vilmos, az Oak Ridge National Laboratory munkatársa Deszorpciós elektrospray ionizáció felhasználásán alapuló felületvizsgáló tömegspektrometria címmel tart előadást a C­–épületi nagyelőadóban január 3-án 10.30-kor. Nemrégiben történt felfedezését követően a deszorpciós elektrospray ionizációs tömegspektrometria, mint felületvizsgáló tömegspektrometriai módszer rohamosan fejlődik. Az új technika segítségével gyakorlatilag majdnem minden felületről gyorsan meghatározható az adszorbeálódott anyagok vagy az alkotóanyagok minősége atmoszférikus körülmények között (például robbanószer-alapanyag maradványok csomagokon, tabletták hatóanyaga, foszfolipidek eloszlása agymintában). Az előadó bemutatja a módszert, áttekinti az eddigi felhasználási területeket, valamint a mennyiségi analízissel kapcsolatos kérdéseket és felületek kémiai feltérképezését.

(Kleinhappel Miklós)